HNZDL系列可編程直流穩(wěn)壓大電流電源老化測(cè)試電源 線性直流恒流源廠家

一、產(chǎn)品特點(diǎn) 

1、采用超大真彩大液晶觸摸屏人機(jī)界面，方便直接編程操作。直流開關(guān)試驗(yàn)裝置見(jiàn)其他詳細(xì)介紹

2、本機(jī)一次可執(zhí)行不同電壓、電流、延遲時(shí)間、運(yùn)行時(shí)間的設(shè)定，并可連續(xù)循環(huán)999999次。

3、輸出電壓可以從零伏起調(diào)；輸出電流可以從零預(yù)置;

4、具有10組記憶組,可以將以前使用過(guò)的參數(shù)存儲(chǔ),以便下次使用時(shí)輕松調(diào)用。

5、 具有RS232、RS485通訊接口。半導(dǎo)體生產(chǎn)流程由晶圓制造，晶圓測(cè)試，芯片封裝和封裝后測(cè)試組成，晶圓制造和芯片封裝討論較多，而測(cè)試環(huán)節(jié)的相關(guān)知識(shí)經(jīng)常被邊緣化，下面集中介紹集成電路芯片測(cè)試的相關(guān)內(nèi)容，主要集中在WAT，CP和FT三個(gè)環(huán)節(jié)。集成電路設(shè)計(jì)、制造、封裝流程示意圖WAT（WaferAcceptanceTest）測(cè)試，也叫PCM（ProcessControlMonitoring），對(duì)Wafer劃片槽（ScribeLine）測(cè)試鍵（TestKey）的測(cè)試，通過(guò)電性參數(shù)來(lái)監(jiān)控各步工藝是否正常和穩(wěn)定，CMOS的電容，電阻，Contact，metalLine等，一般在wafer完成制程前，是Wafer從Fab廠出貨到封測(cè)廠的依據(jù)，測(cè)試方法是用ProbeCard扎在TestKey的metalPad上，ProbeCard另一端接在WAT測(cè)試機(jī)臺(tái)上，由WATRecipe自動(dòng)控制測(cè)試位置和內(nèi)容，測(cè)完某條TestKey后，ProbeCard會(huì)自動(dòng)移到下一條TestKey，直到整片Wafer測(cè)試完成。

6、恒定電壓、恒定電流之使用, 可自動(dòng)交叉變換，維持控制與保護(hù)兼顧

7、高頻PWM硬件調(diào)整控制技術(shù)，反應(yīng)速度快，輸出穩(wěn)定  

7、具有輸出穩(wěn)壓、限流、短路保護(hù)和功率器件過(guò)熱保護(hù)功能； 優(yōu)良的輸出穩(wěn)定性能：源電壓效應(yīng)＜0.5%，負(fù)載效應(yīng)＜1%；

8、輸出直流電壓畸變系數(shù)低，干擾??； 在短路和過(guò)載故障時(shí)，可調(diào)節(jié)限流電位器來(lái)限制輸出電流值，從額定值的50%至105%之間變化；但通過(guò)熱像儀，我們可以準(zhǔn)確看到佛像左小手臂下方有明顯的裂縫存在。這其中的原理是，裂縫中存在空氣對(duì)流的情況，導(dǎo)致裂紋處的表面溫度與佛像本體的溫度存在溫差。熱像儀將溫度場(chǎng)分布通過(guò)圖像的形式來(lái)表達(dá)，所以在紅外圖中可以直觀看到，但在可見(jiàn)光中無(wú)法看到該裂縫。受潮檢測(cè)佛像底座受潮檢測(cè)，針對(duì)霉變隱患處進(jìn)行防霉除霉處理。由于佛像依山開鑿，山體中的毛細(xì)水沿著山勢(shì)經(jīng)年累月緩慢地浸入佛像底座。佛像中濕度大的區(qū)域與干燥的區(qū)域，存在細(xì)微溫差。

9、適用于阻性、感性等負(fù)載；負(fù)載適應(yīng)性強(qiáng)；

二、主要用途及適用范圍 

1、電解電容器老練，鉭電容器賦能

2、電阻器、繼電器，馬達(dá)等電子元件老練，例行試驗(yàn)

3、實(shí)驗(yàn)室，電子設(shè)備、自動(dòng)測(cè)試設(shè)備

4、電子檢驗(yàn)設(shè)備、生產(chǎn)線設(shè)備、通訊設(shè)備

對(duì)智能電能表的定義。我國(guó)定義智能電能表(smartelectricitymeter)是由測(cè)量單元、數(shù)據(jù)處理單元、通信單元等組成，具有電能量計(jì)量、信息存儲(chǔ)及處理、實(shí)時(shí)監(jiān)測(cè)、自動(dòng)控制、信息交互等功能的電能表。“智能"從哪里來(lái)智能電能表支持智能電網(wǎng)對(duì)用電負(fù)荷管理、分布式能源計(jì)量、電網(wǎng)運(yùn)行調(diào)度、電力市場(chǎng)交易和電能質(zhì)量監(jiān)測(cè)等方面要求。智能電能表由計(jì)量模塊、電源模塊、CPU模塊、通信模塊、顯示模塊、密鑰和費(fèi)控模塊等組成，具體結(jié)構(gòu)主要包括計(jì)量芯片、低壓直流電源、嵌入式主控制器、外部存儲(chǔ)器、安全芯片、溫度傳感器、時(shí)鐘、報(bào)警指示燈、蜂鳴器、繼電器、通信接口等。交流輸入 15KW以下（單相110V±10%、220V±10%、或者三相380V±15%）

15KW以上（三相380V±15%）

頻率：50HZ、60HZ、400HZ任選

直流輸出 電壓（穩(wěn)壓值CC）：0- 6000V連續(xù)可調(diào)  

電流（恒流值CV）：0- 100000A連續(xù)可調(diào)   

源電壓效應(yīng) ≤0.2%有效值 ES11無(wú)線高壓電流表，無(wú)線距離可達(dá)到3米，電流范圍：.1mA-12A，鉗口尺寸為直徑5mm，配有伸縮式絕緣桿共長(zhǎng)4米，方便，輕巧。ES11測(cè)量變壓器側(cè)邊電流為其中一種應(yīng)用方式。測(cè)試項(xiàng)目（變壓器進(jìn)線電流）從布袋里拿出ES11無(wú)線高低壓電流表按下左側(cè)接收器的紅色POWER鍵跟右側(cè)高壓鉗的紅色POWER鍵開機(jī)，高壓鉗與伸縮性絕緣桿連接找到變壓器進(jìn)線端，將高壓鉗直接插入。手拿接收器接收器上將會(huì)顯示出電流是多少，此時(shí)的電流為5.49A旋轉(zhuǎn)收縮絕緣桿，分別按下接收器上的POWER鍵跟高壓鉗上的POWER鍵關(guān)機(jī)。

負(fù)載效應(yīng) 穩(wěn)壓精度：≤0.5%有效值（阻性負(fù)載）

恒流精度：≤0.5%有效值（阻性負(fù)載）

輸出紋波 穩(wěn)壓狀態(tài)（CC）：≤0.3%+10mV（rms）（有效值）

穩(wěn)流狀態(tài)（CV）：≤0.5%+10mA（rms）（有效值）

輸出顯示 4位半數(shù)字表     精度 ：±1% +1個(gè)字

顯示格式  00.00V-19.99V；000.0V-199.9V；0000V-1999V；

電壓電流設(shè)定 多圈電位器、按鍵式、液晶觸摸屏（可選）

過(guò)壓保護(hù) 內(nèi)置O.V.P保護(hù)，保護(hù)值為額定值+5%，保護(hù)后關(guān)閉輸出，重新開機(jī)解鎖

過(guò)流保護(hù) 過(guò)載、短路、定電流輸出也就是說(shuō)，壓痕接觸面積愈大，超聲硬度計(jì)的示值愈低。而非壓痕接觸大大地增加了壓頭與被測(cè)表面的接觸面積，致使硬度計(jì)示值偏低于真實(shí)值。試驗(yàn)證明，洛氏硬度測(cè)量偏差在10HRC左右；布氏硬度測(cè)量偏差在20HB左右。解決辦法：在測(cè)量試樣硬度時(shí)，我們必須注意被測(cè)表面粗糙度是否符合硬度計(jì)的檢測(cè)條件。在正常使用硬度計(jì)的條件下，必須保證試樣的被測(cè)表面粗糙度值小于或等于Ra=0.8μm，若試樣的被測(cè)表面粗糙度值大于Ra=0.8μm，可以通過(guò)機(jī)械方法（上磨床）或手工方法，對(duì)被測(cè)表面進(jìn)行研磨修整，法國(guó)凱茂KIMO使試樣的被測(cè)表面粗糙度達(dá)到檢側(cè)條件。老化測(cè)試電源 線性直流恒流源廠家YT模式是示波器中常見(jiàn)的，其坐標(biāo)系Y軸為通道輸入信號(hào)，上正下負(fù)，參考地為零點(diǎn)，X軸為時(shí)間，左負(fù)右正，觸發(fā)點(diǎn)為零點(diǎn)。YT模式還可進(jìn)一步細(xì)分為普通、滾動(dòng)、單/雙ZOOM、插值模式，下面將重點(diǎn)介紹常用的普通模式。YT模式常見(jiàn)的是普通模式，示波器一般工作在此模式下，其特點(diǎn)如下：采樣是分次且立的，采樣之間存在死區(qū)，可設(shè)置觸發(fā)條件，波形在采樣完成后輸出，對(duì)于周期信號(hào)一般可以穩(wěn)定顯示。優(yōu)點(diǎn)：適用于觀察周期性信號(hào)，眼圖，低概率的異常信號(hào)，可對(duì)數(shù)據(jù)進(jìn)行強(qiáng)大的處理，如測(cè)量、解碼等，是常用的示波模式。