更新時間:2024-07-21
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廠商性質(zhì):生產(chǎn)廠家
生產(chǎn)地址:山東省青島市平度南京路27號
品牌 | 其他品牌 | 產(chǎn)地類別 | 國產(chǎn) |
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應(yīng)用領(lǐng)域 | 電氣 |
HN-S1數(shù)字毫秒計/數(shù)字電秒表 HN-9微電腦數(shù)字毫秒計(可與PC機通訊)
功能簡介:
智能毫秒計是我公司新研制的新一代毫秒計,是測量繼電保護裝置動作時間以及其它毫秒計時的理想的計時器。該毫秒計以單片機為核心實施高準度毫秒計時。其特點是計時準度高,計時區(qū)間自動調(diào)整,毫秒表的啟/停控制方式多種多樣(滿足形式的計時要求)。控制接點可有兩種形式(空接點、電位),且可任意組合。還可以測量脈沖的寬度。VOCs檢測技術(shù)的日新月益對VOCs的檢測、監(jiān)控、減排有很大的促進作用。本次為您介紹常用的VOCs檢測技術(shù)。實驗室VOCs檢測VOCs實驗室分析發(fā)展較早,也比較成熟。分析方法為使用采樣袋、蘇碼罐、吸附劑或吸收液將VOCs采集回實驗室,再經(jīng)過熱解析、溶劑解析等前處理過程后,利用GC或HPLC分析。實驗室VOCs檢測主要難點在于選擇合適的采樣方法保證可以采集到所有揮發(fā)性有機污染物,制定規(guī)范的運輸方案防止運輸過程中VOCs的損失,選擇合適的前處理過程保證所有的揮發(fā)性有機物進入分析儀器。
一、主要特點:
◇ 輸入的啟動信號和停表信號可以是空觸點、帶電觸點,也可以是電位躍變。
◇ 智能性強,技術(shù)*可靠,使用設(shè)置方便直觀。
◇ 5/7位數(shù)顯,有自動量程切換,測試準度高。
◇ 體積小,重量輕,便于攜帶。NB-IoT隨著物聯(lián)網(wǎng)概念的熱度不斷提升曝光率也日漸增加,經(jīng)過2017年“NB-IoT商用元年"的逐漸發(fā)展完善,如今已成為一種非常成熟產(chǎn)品。那么NB-IoT究竟是何方神圣?他又為何能成為大眾的寵兒?NB-IoT究竟是什么?是“特別牛的物聯(lián)網(wǎng)"(NiubilityInternetofThing)的縮寫嗎?雖然他確實很牛,實際上并非是這樣簡單粗暴的縮寫單詞。NB-IoT是指窄帶物聯(lián)網(wǎng)(NarrowBand-InternetofThings)技術(shù),是IoT領(lǐng)域一個新興的技術(shù),支持低功耗設(shè)備在廣域網(wǎng)的蜂窩數(shù)據(jù)連接,也被叫作低功耗廣域網(wǎng)(LPWA)。
二、主要技術(shù)指標:
1、測量范圍:0000.001s-9999.999s(根據(jù)客戶需求可改動)
◇時標穩(wěn)定度:≤5×10-5晶振頻率(100kHz)
◇觸點允許帶電位及電位輸入:0.5—250VDC
◇ 工作電源電壓: 220v±10% 50hz
◇ 外形尺寸: 285mm×215mm×50mm
◇ 重量:1kg于是,為了進一步減小解決方案的尺寸,有許多多輸出IC可供選擇。這些IC通常包括集成的MOS場效應(yīng)晶體管(MOSFET),同時至少要求配置有外部組件。而且,單就這些IC而言,其成本或許更為昂貴。通過減少生產(chǎn)過程中必須安裝到位的外部組件數(shù)量所獲得的收益,往往會抵消前期付出的高昂成本。采用何種拓撲結(jié)構(gòu)呢?在如所示的實際應(yīng)用中,由于空間的限制,所以LDO將成為我們的。然而,由于功耗和效率的限制,實際情況并非總是如此。
2、測量誤差:≤±5×10-5×量程±1個尾數(shù)字
3、測量方式:八位一體化LED紅色數(shù)碼管
4、功能:連續(xù)性(單)、觸動性(雙)
5、適應(yīng)位號:空觸點:閉合或斷開
電位號:正極性5-250V
6、復位方式:觸動性:隨測量位號自動復位
連續(xù)性:手動復位分工頻耐壓試驗和直流耐壓試驗兩種。工頻耐壓試驗其試驗電壓為被試設(shè)備額定電壓的一倍多至數(shù)倍,不低于1000V。其加壓時間:對于以瓷和液體為主要絕緣的設(shè)備為1分鐘,對于以有機固體為主要絕緣的設(shè)備為5分鐘,對于電壓互感器為3分鐘,對于油浸電力電纜為10分鐘。電氣設(shè)備經(jīng)耐壓試驗?zāi)軌虬l(fā)現(xiàn)絕緣的局部缺陷、受潮及老化。交流耐壓試驗:在被試設(shè)備電壓的2.5倍及以上進行,從介質(zhì)損失的熱擊穿觀點出發(fā),可以有效地發(fā)現(xiàn)局部游離性缺陷及絕緣老化的弱點。
三、測試功能:
1、一個空觸點閉合作用時間
2、一個空觸點斷開作用時間
3、兩個空觸點閉合的時間差
4、兩個空觸點斷開的時間差
5、一個空觸點閉合與另一個空觸點斷開的時間差
6、一個空觸點斷開與另一個空觸點閉合的時間差
PID(PotentianInducedDegradation)是一種電勢誘導衰減現(xiàn)象,是指組件長期在高電壓下使得玻璃,封裝材料之間存在漏電流,大量電荷聚集在電池表面。使得電池表面的鈍化效果惡化,導致填充因子(FF),短路電流(Isc),開路電壓(Voc)降低,使得組件的性能低于設(shè)計標準,發(fā)電能力也隨之下降。2010年,NREL和Solon證實了無論組件采取何種技術(shù)的P型晶硅電池,組件在負偏壓下都有PID的風險。
HN866A微機繼電保護測試儀 工控機型 7U+6I 或 4U+3I
功能簡介:
工控機型,10英寸真彩大屏幕。電壓電流輸出靈活組合 輸出達6(3)相電壓6(4)相電流,可任意組合實現(xiàn)常規(guī)4相電壓3相電流型、6相電壓型、6相電流型,以及12相型輸出模式Windows Xp操作系統(tǒng),面板配有高級不銹鋼鍵盤,軌跡球鼠標8.4寸TFT真彩液晶顯示器。
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